Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: Electron Probe Quantitation
  • Produktbild: Electron Probe Quantitation
- 12%

Electron Probe Quantitation

12% sparen

187,99 € UVP 213,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.06.1991

Abbildungen

VIII, 400 p.

Herausgeber

K.F.J. Heinrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

400

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,7 cm

Gewicht

781 g

Auflage

1991

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43824-0

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.06.1991

Abbildungen

VIII, 400 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

400

Maße (L/B/H)

24,1/16/2,7 cm

Gewicht

781 g

Auflage

1991

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43824-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben und erhalten dafür eine Thalia Geschenkkarte.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: Electron Probe Quantitation
  • Produktbild: Electron Probe Quantitation
  • Early Times of Electron Microprobe Analysis.- Strategies of Electron Probe Data Reduction.- An EPMA Correction Method Based upon a Quadrilateral ?(?z) Profile.- Quantitative Analysis of Homogeneous or Stratified Microvolumes Applying the Model “PAP”.- ?(?z) Equations for Quantitative Analysis.- A Comprehensive Theory of Electron Probe Microanalysis.- A Flexible and Complete Monte Carlo Procedure for the Study of the Choice of Parameters.- Quantitative Electron Probe Microanalysis of Ultra-Light Elements (Boron-Oxygen).- Nonconductive Specimens in the Electron Probe Microanalyzer — A Hitherto Poorly Discussed Problem.- The R Factor: The X-Ray Loss due to Electron Backscatter.- The Use of Tracer Experiments and Monte Carlo Calculations in the ?(?z) Determination for Electron Probe Microanalysis.- Effect of Coster-Kronig Transitions on X-Ray Generation.- Uncertainties in the Analysis of M X-Ray Lines of the Rare-Earth Elements.- Standards for Electron Probe Microanalysis.- Quantitative Elemental Analysis of Individual Microparticles with Electron Beam Instruments.- The f(?) Machine: An Experimental Bench for the Measurement of Electron Probe Parameters.- Quantitative Compositional Mapping with the Electron Probe Microanalyzer.- Quantitative X-Ray Microanalysis in the Analytical Electron Microscope.