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Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
Band 36 - 12%

Advances in X-Ray Analysis

Aus der Reihe Advances in X-Ray Analysis
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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

01.08.1993

Abbildungen

52 SW-Abb.

Herausgeber

John V. Gilfrich + weitere

Verlag

Springer

Seitenzahl

712

Maße (L/B/H)

26/18,3/4,4 cm

Gewicht

1513 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-44571-2

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Erscheinungsdatum

01.08.1993

Abbildungen

52 SW-Abb.

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Springer

Seitenzahl

712

Maße (L/B/H)

26/18,3/4,4 cm

Gewicht

1513 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-44571-2

Herstelleradresse

Springer Heidelberg
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE
buchhandel-buch@springer.com

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