Mauersberger, I: Prüfstandentwicklung Für die mechanische Zuverlässigkeitsuntersuchung von flexiblen Leiterplattenstrukturen neuroprothetischer Implantate
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- Deutsch ausgewählt
49,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
18.10.2013
Verlag
VDMSeitenzahl
84
Maße (L/B/H)
22/15/0,5 cm
Gewicht
142 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-639-03097-6
Ein tatsächlicher Funktionsgewinn und eine erhebliche Erleichterung im Alltag kann mit neuroprothetischen Implantaten für den Patienten nur dann erreicht werden, wenn bei der Entwicklung die Priorität zu einem Großteil auf der Gewährleistung der Systemzuverlässigkeit liegt. Die Auslegung der Implantate muss für die im Körper herrschenden Bedingungen erfolgen, so dass eine solide Funktionsweise im Organismus garantiert werden kann. Für diese Analysen bedarf es spezieller Prüfverfahren und -systeme, die unter anwendungsnahen Bedingungen die elektronischen Strukturen auf ihre Eignung als Implantat untersuchen. In diesem Buch wird die Entwicklung eines Prüfstandes zur Untersuchung der Zuverlässigkeit bei Biegewechselbeanspruchungen neuroprothetischer Polyimid-Implantate betrachtet. Neben der detaillierten Beschreibung der Konstruktion, den in deren Rahmen durchgeführten Variantenvergleiche und theoretischen Vorbetrachtungen werden der Stand der Technik, allgemeine Grundlagen sowie der Entwurf einer Polyimid-Teststruktur in kurzer Form beschrieben. Dieses Buch richtet sich an alle Studenten und Interessenten der Medizin-, Feinwerk-, Mess- und Prüftechnik sowie der Qualitätssicherung.
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