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Produktbild: The Rietveld Method

The Rietveld Method

124,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.01.1995

Herausgeber

YOUNG + weitere

Verlag

Oxford University Press

Seitenzahl

308

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,7 cm

Gewicht

459 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-19-855912-2

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Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.01.1995

Herausgeber

Verlag

Oxford University Press

Seitenzahl

308

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,7 cm

Gewicht

459 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-19-855912-2

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  • R.A. Young: Introduction to the Rietveld Method; H.M. Rietveld: The early days: a retrospective view; E. Prince: Mathematical aspects of Rietveld refinement; T.M. Sabine: The flow of radiation in a polycrystalline material; R.J. Hill: Data collection strategies: fitting the experiment to the need; J.W. Richardson jr: Background modelling in Rietveld analysis; R.L. Snyder: Analytical profile fitting of X-ray powder diffraction profiles in Rietveld analysis; R. Delhez, Th. H. de Keijser, J.I. Langford, D. Louër, E.J. Mittemeijer, and E.J. Sonneveld: Crystal imperfection broadening and peak shape in the Rietveld method; P. Suortti: Bragg reflection profile shape in X-ray powder diffraction patterns; C. Bärlocher: Restraints and constraints in Rietveld refinement; W.I.F. David, & J.D. Jorgensen: Rietveld refinement with time-of-flight powder diffraction from pulsed neutron sources; R.B. von Dreele: Combined X-ray and neutron Rietveld refinement; F. Izumi: Rietveld analysis programs Rietan and Premos and special applications; H. Toraya: Position-constrained and unconstrained powder-pattern-decomposition methods; A.K. Cheetham: Ab initio structure solutions with powder diffraction data.