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  • Produktbild: Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy
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Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy A Laboratory Workbook

97,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.08.1990

Abbildungen

XI, 407 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

407

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,3 cm

Gewicht

728 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43591-1

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.08.1990

Abbildungen

XI, 407 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

407

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,3 cm

Gewicht

728 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1990

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43591-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • I: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.- Laboratory 1 Basic SEM Imaging.- Laboratory 2 Electron Beam Parameters.- Laboratory 3 Image Contrast and Quality.- Laboratory 4 Stereo Microscopy.- Laboratory 5 Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry.- Laboratory 6 Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 7 Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometry and Microanalysis.- II: Advanced Scanning Electron Microscopy.- Laboratory 8 Backscattered Electron Imaging.- Laboratory 9 Scanning Transmission Imaging in the SEM.- Laboratory 10 Low-Voltage SEM.- Laboratory 11 High-Resolution SEM Imaging.- Laboratory 12 SE Signal Components.- Laboratory 13 Electron Channeling Contrast.- Laboratory 14 Magnetic Contrast.- Laboratory 15 Voltage Contrast and EBIC.- Laboratory 16 Environmental SEM.- Laboratory 17 Computer-Aided Imaging.- III: Advanced X-Ray Microanalysis.- Laboratory 18 Quantitative Wavelength-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 19 Quantitative Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 20 Light Element Microanalysis.- Laboratory 21 Trace Element Microanalysis.- Laboratory 22 Particle and Rough Surface Microanalysis.- Laboratory 23 X-Ray Images.- IV: Analytical Electron Microscopy.- Laboratory 24 Scanning Transmission Imaging in the AEM.- Laboratory 25 X-Ray Microanalysis in the AEM.- Laboratory 26 Electron Energy Loss Spectrometry.- Laboratory 27 Convergent Beam Electron Diffraction.- V: Guide to Specimen Preparation.- Laboratory 28 Bulk Specimens for SEM and X-Ray Microanalysis.- Laboratory 29 Thin Specimens for TEM and AEM.- Laboratory 30 Coating Methods.- Solutions to Laboratory Exercises.- Laboratory 2 Electron Beam Parameters.- Laboratory 3 Image Contrast and Quality.- Laboratory 4 Stereo Microscopy.- Laboratory 5 Energy-Dispersive X-Ray Spectrometry.- Laboratory 6 Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 7 Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometry and Microanalysis.- Laboratory 8 Backscattered Electron Imaging.- Laboratory 9 Scanning Transmission Imaging in the SEM.- Laboratory10 Low-Voltage SEM.- Laboratory 11 High-Resolution SEM Imaging.- Laboratory 12 SE Signal Components.- Laboratory 13 Electron Channeling Contrast.- Laboratory 14 Magnetic Contrast.- Laboratory 15 Voltage Contrast and EBIC.- Laboratory 16 Environmental SEM.- Laboratory 17 Computer-Aided Imaging.- Laboratory 18 Quantitative Wavelength-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 19 Quantitative Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis.- Laboratory 20 Light Element Microanalysis.- Laboratory 21 Trace Element Microanalysis.- Laboratory 22 Particle and Rough Surface Microanalysis.- Laboratory 23 X-Ray Images.- Laboratory 24 Scanning Transmission Imaging in the AEM.- Laboratory 25 X-Ray Microanalysis in the AEM.- Laboratory 26 Electron Energy Loss Spectrometry.- Laboratory 27 Convergent Beam Electron Diffraction.