Cetiner, S: Ion Time-of-Flight Spectrometer Development of an Ion Time-of-Flight Spectrometer for Neutron Depth Profiling
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- Deutsch ausgewählt
79,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
02.12.2008
Verlag
VDMSeitenzahl
216
Maße (L/B/H)
22/15/1,3 cm
Gewicht
340 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-639-09980-5
investigated for potential application to neutron
depth profiling. Time-of-flight techniques are used
extensively in a wide range of scientific and
technological applications including energy and mass
spectroscopy. Ion time-of-flight spectrometry offers
highly precise measurement capabilities, particularly
for slow particles. Time-of-flight spectrometry
involves correlated detection of two signals by a
coincidence unit. In ion time-of-flight spectroscopy,
the ion generates the primary input signal. The
secondary signal can be obtained by a number of ways.
In this work, the secondary signal is created by the
passage of the primary ion through a thin carbon
foil. Two ion time-of-flight spectrometer design
paradigms are introduced: the parallel electric and
magnetic (PEM) field spectrometer and the cross
electric and magnetic (CEM) field spectrometer.
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