Fiedler, T: Schaltverhalten beim IGBT-Transistor Aufbau und Inbetriebnahme eines Prüfplatzes zur Untersuchung des Schaltverhaltens eines IGBT-Transistors
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- Deutsch ausgewählt
49,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
01.04.2009
Verlag
VDMSeitenzahl
112
Maße (L/B/H)
22/15,4/1,3 cm
Gewicht
185 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-639-14407-9
die damit verbundene Entwicklung der klassischen
Bauelemente Diode, Transistor etc. ist man in der
Lage den elektrischen Strom gerichtet steuern zu
können. Es ist dadurch möglich, den Stromfluß
respektive den Energiefluß auf die spezifischen
Erfordernisse des zu versorgenden Energiewandlers
abzustimmen. Die gezielte Weiterentwicklung dieser
klassischen Bauelemente hat moderne
Leistungshalbleiter hervorgebracht die hochdynamisch
schalten und dabei verhältnismäßig kleine Verluste
verursachen.
Ein weit verbreiteter Vertreter bei den abschaltbaren
Leistungshalbleitern ist der sog. Insulated Gate
Bipolar Transistor, kurz IGBT-Transistor. Das
Ziel dieser Arbeit besteht in dem Bau und der
Inbetriebnahme eines Versuchsstandes zur Darstellung
der charakteristischen Spannungen und Ströme am IGBT.
Anhand der dargestellten Verläufe kann dann am
IGBT-Ersatzschaltbild das transiente Verhalten
erklärt werden.
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