Physical Analytics in Materials Science Applications of High Performance Physical Analytics (SIMS, RBS, SEM/TEM and AES) in Materials Science
-
- Deutsch ausgewählt
79,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
05.07.2009
Verlag
Südwestdeutscher Verlag für HochschulschriftenSeitenzahl
184
Maße (L/B/H)
22/15/1,2 cm
Gewicht
292 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-8381-0891-9
Nowadays the application of physical analytic methods in the materials science (synthesis, characterisation and development of new materials) is essential. In this work four of these techniques, which are able to investigate surfaces and interfaces as well as the bulk material: secondary ion mass spectrometry (SIMS), Rutherford backscattering (RBS), electron microscopy (SEM, TEM) and Auger electron spectroscopy (AES) are applied on four different research areas: powder metallurgy, Tribology on the aerospace bearing materials, Gettering effects and defect engineering in Si and SiGe heterostructures. Generally, the use of the physical analytic methods in materials science is essential. Here, it could be shown that due to their figures of merit, SIMS, AES, RBS and SEM / TEM are complementary methods each one with advantages but also with some drawbacks.
Ein neues Kapitel für Ihre Bücher
Ein neues Kapitel für Ihre Bücher
Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben und erhalten dafür eine Thalia Geschenkkarte.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für Ihr Feedback
Wir nutzen Ihr Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte haben Sie Verständnis, dass wir Ihnen keine Rückmeldung geben können. Falls Sie Kontakt mit uns aufnehmen möchten, können Sie sich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice