Produktbild: Focused Ion Beam Systems

Focused Ion Beam Systems Basics and Applications

89,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.08.2010

Herausgeber

Nan Yao

Verlag

Cambridge University Press

Seitenzahl

408

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,3 cm

Gewicht

701 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-521-15859-6

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.08.2010

Herausgeber

Nan Yao

Verlag

Cambridge University Press

Seitenzahl

408

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,3 cm

Gewicht

701 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-521-15859-6

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Produktbild: Focused Ion Beam Systems
  • List of contributors; Preface; 1. Introduction to the focused ion beam system Nan Yao; 2. Interaction of ions with matter Nobutsugu Imanishi; 3. Gas assisted ion beam etching and deposition Hyoung Ho (Chris) Kang, Clive Chandler and Matthew Weschler; 4. Imagining using electrons and ion beams Kaoru Ohya and Tohru Ishitani; 5. Characterization methods using FIB/SEM DualBeam instrumentation Steve Rentjens and Lucille A. Giannuzzi; 6. High-density FIB-SEM 3D nanotomography: with applications of real-time imaging during FIB milling E. L. Principe; 7. Fabrication of nanoscale structures using ion beams Ampere A. Tseng; 8. Preparation for physico-chemical analysis Richard Langford; 9. In-situ sample manipulation and imaging T. Kamino, T. Yaguchi, T. Ohnishi and T. Ishitani; 10. Micro-machining and mask repair Mark Utlaut; 11. Three-dimensional visualization of nanostructured materials using focused ion beam tomography Derren Dunn, Alan J. Kubis and Robert Hull; 12. Ion beam implantation of surface layers Daniel Recht and Nan Yao; 13. Applications for biological materials Kirk Hou and Nan Yao; 14. Focused ion beam systems as a multifunctional tool for nanotechnology Toshiaki Fujii, Tatsuya Asahata and Takashi Kaito; Index.