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Produktbild: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen
Band 27

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

Aus der Reihe Teubner Texte zur Informatik

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1998

Abbildungen

322 S. Mit 144 Bildern.

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

322

Maße (L/B/H)

23,5/16,2/1,8 cm

Gewicht

522 g

Auflage

1998

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-8154-2314-1

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1998

Abbildungen

322 S. Mit 144 Bildern.

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

322

Maße (L/B/H)

23,5/16,2/1,8 cm

Gewicht

522 g

Auflage

1998

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-8154-2314-1

Herstelleradresse

Vieweg+Teubner Verlag
Abraham-Lincoln-Straße 46
65189 Wiesbaden
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • 1 Einleitung.- 1.1 Testprobleme.- 1.2 Selbsttest als Lösung.- 1.3 Aufbau des Buchs.- 2 Defekte und Fehler.- 2.1 Defekte bei der Halbleiterfertigung.- 2.2 Bestimmung der realistischen Fehler.- 3 Teststrategien.- 3.1 Schaltungsbeschreibung.- 3.2 Fehlermodelle und Testmuster.- 3.3 Verbesserung der Testbarkeit.- 3.4 Durchführung des Tests.- 3.5 Auswahl einer Teststrategie.- 4 Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung.- 4.1 Rückgekoppelte Schieberegister.- 4.2 Zellulare Automaten.- 4.3 Multifunktionale Testregister.- 4.4 Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten.- 5 Synthese selbsttestbarer Schaltungen.- 5.1 Selbsttestbare Strukturen.- 5.2 Synthese leicht testbarer Steuerwerke.- 5.3 High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade.- 5.4 Optimaler Testregistereinbau.- 5.5 Planung des Testablaufs.- 6 Schluß.- 7 Literatur.- A Grundbegriffe aus der Graphentheorie.- B Grundbegriffe aus der Theorie der Markovketten.- C Benchmark-Schaltungen.