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Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und Röntgenstrahlen

79,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1980

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

432

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,4 cm

Gewicht

1024 g

Auflage

1979

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-528-08398-4

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1980

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

432

Maße (L/B/H)

24,4/17/2,4 cm

Gewicht

1024 g

Auflage

1979

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-528-08398-4

Herstelleradresse

Vieweg+Teubner Verlag
Abraham-Lincoln-Straße 46
65189 Wiesbaden
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Einführung.- 1. Röntgendiffraktometrie.- 2. Röntgentopographie.- 3. Röntgenfluoreszenzanalyse.- 4. Elektronenstrahl-Mikroanalyse.- 5. Hoehauflösende Röntgenspektroskopie.- 6. Festkörperanalyse mittels ioneninduzierter Röntgenstrahlung.- 7. Beugung schneller Elektronen (HEED).- 8. Beugung langsamer Elektronen (LEED).- 9. Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie.- 10. Oberfläehen-Elektronenmikroskopie.- 11. Feldemissionsmikroskopie.- 12. Energieverlust-Elektronenspektroskopie.- 13. Auger-Elektronenspektroskopie.- 14. Photoelektronenspektroskopie.- 15. Ioneninduzierte Elektronenemission.- 16. Ionenreflexionsspektroskopie.- 17. Ionometrie.- 18. Sekundärionen-Massenspektroskopie.- 19. Elektronenstimulierte Ionendesorption.- 20. Rechnersteuerung, Datenerfassung und Auswertung.- Autorenverzeichnis.