Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
18.03.2012
Verlag
Springer UsSeitenzahl
306
Maße (L/B/H)
24,1/16/2,3 cm
Gewicht
670 g
Auflage
2012
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4614-0787-4
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