Basmer, T: Entwurf eines Bustest-Verfahrens basierend auf de Entwurf und prototypische Implementierung eines Bustest-Verfahrens basierend auf dem Broadside-Ansatzes
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- Deutsch ausgewählt
59,00 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
01.06.2011
Verlag
VDMSeitenzahl
140
Maße (L/B/H)
22/15/0,8 cm
Gewicht
204 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-639-36041-7
Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer größere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz.
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