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Produktbild: Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
Band 140

Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen

Aus der Reihe Informatik-Fachberichte

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

12.08.1987

Abbildungen

XII, mit 4 Abbildungen

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

133

Maße (L/B/H)

24,4/17/0,9 cm

Gewicht

276 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-18072-2

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Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

12.08.1987

Abbildungen

XII, mit 4 Abbildungen

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

133

Maße (L/B/H)

24,4/17/0,9 cm

Gewicht

276 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-18072-2

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Produktbild: Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen
  • 1. Das Testproblem für integrierte Schaltungen.- 1.1 Die Rolle des Produktionstests.- 1.1.1 Die Kosten des Tests.- 1.1.2 Die Ausbeute.- 1.1.3 Produktqualität.- 1.2 Ebenen der Fehlermodellierung.- 1.3 Testbarkeitsmaße und Testregeln.- 1.4 Teststrategien für synthetisierte Schaltungen.- 1.4.1 Das Scan Design.- 1.4.2 Tests für Schaltungen im Scan Design.- 1.4.3 Synthese regulärer Strukturen.- 1.4.4 Testerzeugung aus der Funktionsbeschreibung.- 1.4.5 Der Test mit Zufallsmustern.- 1.4.6 Der gegenwärtige Stand bei der Integration von Test und Synthese.- 2 Grundlagen, Definitionen und Vorarbeiten.- 2.1 Grundlegende Sachverhalte und Definitionen.- 2.1.1 Schaltnetzanalyse.- 2.1.2 Optimierung.- 2.1.3 Schieberegisterfolgen.- 2.2 Die Aufgabenstellung.- 2.3 Vorarbeiten von anderer Seite und Abgrenzung der Ergebnisse.- 2.3.1 Vorarbeiten zur Bestimmung von Signal- und Fehlerentdeckungswahrscheinlichkeiten.- 2.3.2 Gegenwärtiger Stand bei der Optimierung von Eingangswahrscheinlichkeiten.- 3 Fehlerentdeckungs- und Signalwahrscheinlichkeiten.- 3.1 Die Aufgabenstellung und ihre Komplexität.- 3.2 Die exakte Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten.- 3.3 Schätzung der Signalwahrscheinlichkeiten im Programmsystem PROTEST.- 3.4 Modellierung des Signalflusses.- 3.5 Anwendungen.- 3.5.1 Unterstützung deterministischer Testerzeugung.- 3.5.2 Berechnung von Testlängen.- 3.6 Behandlung von Redundanz.- 4 Die Bestimmung effizienter Zufallstests.- 4.1 Die Gütefunktion für den Zufallstest.- 4.2 Eigenschaften der Gütefunktion.- 4.2.1 Zur Konvexität der Gütefunktion.- 4.2.2 Beispiele für konvexe und multimodale Gütefunktionen.- 4.3 Zur Auswahl des Optimierverfahrens.- 4.4 Optimierung bezüglich einer Variablen ,.- 4.5 Die Methode des steilsten Abstiegs.- 4.6 Die Methode des zyklischen Abstiegs.- 4.7 Fehlersimulation mit optimierten Zufallmustern.- 4.8 Bemerkungen zur Redundanz.- 5 Anwendungen bei Test-und Synthesealgorithmen.- 5.1 Anforderungen an Pseudozufallsfolgen.- 5.2 Der externe Test mit optimierten Zufallsmustern.- 5.2.1 Testkonfiguration für den externen Test mit Zufallsmustern.- 5.2.2 Ein Chip zur externen Erzeugung optimierter Zufallsmuster.- 5.2.3 Schaltungscharakteristika beim externen Zufallstest.- 5.3 Der Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern.- 5.3.1 Verfahren zur Erzeugung optimierter Zufallsmuster.- 5.3.2 Zusatzbeschaltung für den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern.- 5.3.3 Mehrkosten für den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern.- 6 Praktische Ergebnisse.- 6.1 Usntersuchte Schaltungen.- 6.2 Validierung der Schätzergebnisse von PROTEST.- 6.2.1 Die Methode.- 6.2.2 Signalwahrscheinlichkeiten.- 6.2.3 Fehlerentdeckungswahrscheinlichkeiten.- 6.3 Musterzahlen für optimierte und für nicht optimierte Eingangswahrscheinüchkeiten.- 6.4 Fehlersimulation mit optimierten und nicht optimierten Mustermengen.- 6.5 Optimierte Mustererzeugung per Hardware.- 1. Der Aufbau von PROTEST.- 2. Beweis der Formel (4.11).- 3. Reduktion deterministischer Testmengen.- 4. Autokorrelation der erzeugten Zufallsfolge.- 5. Beispiele optimierter Eingangswahrscheinlichkeiten.