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Testverfahren in der Mikroelektronik Methoden und Werkzeuge

Aus der Reihe Mikroelektronik

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2011

Abbildungen

XI, 219 S.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

219

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-64456-6

Beschreibung

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.10.2011

Abbildungen

XI, 219 S.

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

219

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-64456-6

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Inhaltsverzeichnls.- 1 Einführung und Abgrenzung.- 1.1 Testen im Produktionsablauf.- 1.2 Begriffsklärung und Abgrenzung.- 2 Fehlermodelle.- 2.1 Funktionsfehlermodell.- 2.2 Haftfehlermodell.- 2.3 CMOS-Unterbrechungsfehler.- 2.4 Verzögerungsfehler.- 3 Testmusterberechnung.- 3.1 Testmusterberechnung für kombinatorische Schaltungen.- 3.2 Testmusterberechnung für sequentielle Schaltungen.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Simulationsmethoden.- 4.2 Serielle Fehlersimulation.- 4.3 Fehlerparallele Fehlersimulation.- 44 Musterparallele Fehlersimulation.- 4.5 Deduktive Fehlersimulation.- 4.6 Nebenläufige Fehlersimulation.- 4.7 Simulation it einer Fehlerstichprobe.- 5 Testbarkeitsanalyse.- 5.1 Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, und Testbarkeit kombinatorischer Schaltungen.- 5.2 Statistische Verfahren zur Testbarkeitsanalyse.- 5.3 Probabilistische Verfahren.- 5.4 Charakterisierung schwer erkennbarer Fehler.- 6 Testfreundlicher Entwurf.- 6.1 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Fehlermodellierung.- 6.2 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testanwendung.- 6.3 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testmusterberechnung.- 7 Selbsttest integrierter Schaltungen.- 7.1 Architektur selbsttestender Schaltungen.- 7.2 Testmustergeneratoren für den eingebauten Selbsttest.- 7.3 Testdatenkompression.- 7.4 Blockselbsttestverfahren.- A1 Hypergeometrisch und binomial verteilte Zufallsvariable.- A2 Wahrscheinlichkeitsfunktion und Momente betavermeilter Zufallsvariabler.- A3 Primitive Polynome bis zum Grad 258.- Literatur.