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Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.08.2013

Abbildungen

XV, 173 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

173

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,1 cm

Gewicht

300 g

Auflage

2011

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4614-3021-6

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.08.2013

Abbildungen

XV, 173 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

173

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,1 cm

Gewicht

300 g

Auflage

2011

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4614-3021-6

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • 1. Introduction.- 2. Predictive Technology Model of Conventional CMOS Devices.- 3. Predictive Technology Model of Enhanced CMOS Devices.- 4. Statistical Extraction and Modeling of CMOS Variability.- 5. Modeling of Temporal Reliability Degradation.- 6. Modeling of Interconnect Parasitics.- 7. Design Benchmark with Predictive Technology Model.- 8. Predictive Process Design Kits.- 9. Predictive Modeling of Carbon Nanotube Devices.- 10. Predictive Technology Model for Future Nanoelectronic Design.