Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

195,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

21.10.2012

Abbildungen

XVIII, 372 p.

Herausgeber

Joseph Goldstein + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2,2 cm

Gewicht

742 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-5738-4

Beschreibung

Rezension

`
[A] rich and authoritative collection of papers, which have both a historical and an up-to-the-minute dimension.
'



from the Foreword by
Peter Duncumb, University of Cambridge, England




`
Contains a vast amount of detailed information and will surely be heavily used.
'




Ultramicroscopy



Portrait

Joseph Goldstein leitet seit 1974 weltweit Retreats und Seminare in buddhistischer Meditation und ist Mitbegründer der Insight Meditation Society.
Seine Praxis begann er 1967, als er als Friedensaktivist in Thailand auf den Buddhismus stieß. Heute gilt er als einer der führenden Vertreter eines westlichen Buddhismus. In deutscher Sprache wurde von ihm (gemeinsam mit Jack Kornfield) das Buch Einsicht durch Meditation veröffentlicht.

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

21.10.2012

Abbildungen

XVIII, 372 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2,2 cm

Gewicht

742 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1995

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-5738-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben und erhalten dafür eine Thalia Geschenkkarte.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
  • Produktbild: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
  • The Development of Energy Dispersive Electron Probe Analysis; K.F.J. Heinrich. Problems and Trends in X-ray Detector Design for Microanalysis; B.G. Lowe. New Materials for Thin Windows; M.W. Lund. Intrinsic Ge Detectors; R. Sareen. Modeling the Energy-dispersive X-ray Detector; D.C. Joy. The Effect of Detector Dead Layers on Light Element Detection; J.J. McCarthy. Energy-dispersive X-ray Spectrometry in Ultra-high Vacuum Environments; J.R. Michael. Quantifying Benefits of Resolution and Count Rate in EDX Microanalysis; P.J. Statham. Improving EDS Performance with Digital Pulse Processing; R.B. Mott, J.J. Friel. A Study of Systematic Errors in Multiple Linear Regression Peak Fitting Using Generated Spectra; C.R. Swyt. Artifacts in Energy-dispersive X-ray Spectrometry in Electron Beam Instruments: Are Things Getting Any Better?; D.E. Newbury. Characterizing an Energy-dispersive Spectrometer on an Analytical Electron Microscope; S.M. Zemyan, D.B. Williams. Wavelength Dispersive Spectrometry - A Review; S.J.B. Reed. Synthetic Multilayer Crystals for EPMA of Ultralight Elements; G.F. Bastin, H.J.M. Heijligers. 4 additional articles. Index.