Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
Band 148 - 10%

X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films Materials Science and Basic Research

Aus der Reihe Springer Tracts in Modern Physics
10% sparen

95,99 € UVP 106,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

198

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14218-9

Beschreibung

Rezension

"The book is well referenced and clearly conveys materials systems and behavior that are amenable to characterization by thin-film scattering techniques. It should be an asset to any research group beginning, or currently involved in, the characterization of thin films by x-ray diffraction."

Physics Today, 2000/2

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.10.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

198

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,2 cm

Gewicht

330 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-14218-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben: Einfach Barcode scannen, Versandetikett ausdrucken, Bücher verschicken und Thalia Geschenkkarte erhalten.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
  • Produktbild: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
  • Reflectivity of x-rays from surfaces.- Reflectivity experiments.- Advanced analysis techniques.- Statistical description of interfaces.- Off-specular scattering.- X-ray scattering with coherent radiation.- Closing remarks.