• Produktbild: Electrochemistry at Semiconductor and Oxidized Metal Electrodes
  • Produktbild: Electrochemistry at Semiconductor and Oxidized Metal Electrodes
- 15%

Electrochemistry at Semiconductor and Oxidized Metal Electrodes

15% sparen

126,99 € UVP 149,79 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

12.10.2011

Abbildungen

XIV, 416 p. 18 illus.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

416

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,3 cm

Gewicht

605 g

Auflage

1980

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-3146-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

12.10.2011

Abbildungen

XIV, 416 p. 18 illus.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

416

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,3 cm

Gewicht

605 g

Auflage

1980

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-3146-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben und erhalten dafür eine Thalia Geschenkkarte.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Electrochemistry at Semiconductor and Oxidized Metal Electrodes
  • Produktbild: Electrochemistry at Semiconductor and Oxidized Metal Electrodes
  • 1. The Solid and the Solution.- 1.1. The Solid.- 1.2. The Solution.- 2. The Solid/Liquid Interface.- 2.1. Surface Ions and Their Energy Levels.- 2.2. Double Layers at the Solid/Liquid Interface.- 2.3. Theoretical Predictions of the Energy Levels of Band Edges.- 2.4. The Band Model of the Solid/Solution Interface.- 3. Theory of Electron and Hole Transfer.- 3.1. Introduction.- 3.2. Classical Model.- 3.3. The Energy Level Model of Charge Transfer.- 3.4. Qualitative Description of Electrode Processes Using the Band Model.- 4. Measurement Techniques.- 4.1. Capacity Measurements.- 4.2. Measurements of the Current/Voltage Characteristics.- 4.3. Other Techniques.- 5. The Properties of the Electrode and Their Effect on Electrochemical Measurements.- 5.1. The Behavior of the Perfect Crystal.- 5.2. The Behavior of Electrode Defects.- 5.3. Observed Flat Band Potentials for Various Semiconductors.- 6. Observations of Charge Transfer at an Inert Semiconductor Electrode.- 6.1. Introduction.- 6.2. Majority Carrier Capture.- 6.3. Minority Carrier Capture.- 6.4. Intrinsic Surface States and Recombination Centers.- 6.5. Carrier Injection.- 6.6. High-Current, High-Voltage Processes.- 6.7. Analysis of Complicated Electrode Reactions using the Tools of Semiconductor Electrochemistry.- 7. Chemical Transformation in the Electrode Reaction.- 7.1. Introduction.- 7.2. Inner Sphere Changes during Redox Reactions at an Inert Electrode.- 7.3. Adsorption onto and Absorption into the Electrode.- 7.4. Corrosion.- 8. Coated Electrodes.- 8.1. Introduction.- 8.2. Current Transport through Oxide Films.- 8.3. Deposition of Reaction Products on Semiconductor Electrodes.- 9. Applications of Semiconductor Electrodes.- 9.1. Solar Energy Conversion.- 9.2. Electrocatalysis on Semiconductors.- 9.3. New Devices.- 9.4. Electropolishing of Semiconductors.- References.- References to Review Articles and Books.- Author Index.