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Debugging at the Electronic System Level

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.10.2014

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

199

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

341 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-9507-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.10.2014

Verlag

Springer Netherland

Seitenzahl

199

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

341 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-94-007-9507-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • List of Figures. List of Tables. Preface. Acknowledgements.
    1. INTRODUCTION; 1 General Objective of the Book; 2 Summary of Contributions; 3 Book Outline. 2. ESL DESIGN AND VERIFICATION; 1 ESL Design; 2 ESL Verification; 3 Our Debugging Approach. 3. EARLY ERROR DETECTION; 1 Deduction Techniques in a Nutshell; 2 Static Analysis Framework; 3 SystemC Design Analysis System; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 4. HIGH-LEVEL DEBUGGING AND EXPLORATION; 1 Observation Techniques in a Nutshell; 2 System-Level Debugging; 3 High-Level SystemC Debugging; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 5. LEARNING ABOUT THE DESIGN; 1 Induction Techniques in a Nutshell; 2 Automatic Generation of Properties; 3 Dynamic Invariant Analysis on Simulation Traces; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 6. ISOLATING FAILURE CAUSES; 1 Experimentation Techniques in a Nutshell; 2 Automatic Isolation of Failure Causes; 3 Automatic Isolation of Failure Causes in SystemC; 4 Experimental Results; 5 Summary and Future Work. 7. SUMMARY AND CONCLUSION.
    Appendix A. FDC Language ; 1 FDC Syntax ; 2 FDC Semantic.
    Appendix B. Debug Pattern Catalog; 1 General Format; 2 COMPETITION Pattern; 3 TIMELOCK Pattern.
    References. List of Acronyms. Index of Symbols. Index.