Produktbild: In-situ Materials Characterization
Band 193

In-situ Materials Characterization Across Spatial and Temporal Scales

97,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.08.2016

Abbildungen

XI, 124 illus., 78 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Alexander Ziegler + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

411 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-51976-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.08.2016

Abbildungen

XI, 124 illus., 78 illus. in color., farbige Illustrationen, schwarz-weiss Illustrationen

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

256

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,5 cm

Gewicht

411 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 2014

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-51976-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben: Einfach Barcode scannen, Versandetikett ausdrucken, Bücher verschicken und Thalia Geschenkkarte erhalten.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: In-situ Materials Characterization
  • Introduction Chapter 1 Scanning Probe Microscopy on 'Live' Catalysts Chapter 2 In-situ X-ray diffraction at synchrotron and Free-Electron-Laser sources Chapter 3 Advanced in situ transmission electron microscopy Chapter 4 Ultra-fast TEM and Electron Diffraction Chapter 5 In-Situ Materials Characterization with FIB/SEM. Chapter 6 In-situ X-ray photoelectron spectroscopy Chapter 7 “Real-time” probing of photo-induced molecular processes in liquids by ultrafast X-ray absorption spectroscopy Chapter 8 Time-Resolved Neutron Scattering Chapter 9 Novel Detectors for Ultra-fast XRD, TEM and ED Characterization