Produktbild: Dopants and Defects in Semiconductors

Dopants and Defects in Semiconductors

295,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.02.2018

Abbildungen

Tabellen, schwarz-weiss

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

374

Maße (L/B/H)

26/18,3/2,5 cm

Gewicht

897 g

Auflage

2. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-138-03519-5

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Erscheinungsdatum

28.02.2018

Abbildungen

Tabellen, schwarz-weiss

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

374

Maße (L/B/H)

26/18,3/2,5 cm

Gewicht

897 g

Auflage

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Sprache

Englisch

ISBN

978-1-138-03519-5

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  • 1. Semiconductor Basics 2. Defect Classifications 3. Interfaces and Devices 4. Crystal Growth and Doping 5. Electronic Properties 6. Vibrational Properties 7. Optical Properties 8. Thermal Properties 9. Electrical Measurements 10. Optical Spectroscopy 11. Particle-Beam Methods 12. Microscopy and Structural Characterization