Produktbild: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung

129,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

25.01.2020

Abbildungen

XXXIII, mit 232 Amit 24 Abbildungengen, 24 Abb. in Farbe.

Verlag

Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH

Seitenzahl

639

Maße (L/B/H)

24,6/17,3/4 cm

Gewicht

1428 g

Auflage

1. Auflage 2020

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-658-22177-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

25.01.2020

Abbildungen

XXXIII, mit 232 Amit 24 Abbildungengen, 24 Abb. in Farbe.

Verlag

Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH

Seitenzahl

639

Maße (L/B/H)

24,6/17,3/4 cm

Gewicht

1428 g

Auflage

1. Auflage 2020

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-658-22177-5

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: GPSR Kontakt

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Ein neues Kapitel für Ihre Bücher

Schenken Sie Ihren alten Schätzen ein zweites Leben: Einfach Barcode scannen, Versandetikett ausdrucken, Bücher verschicken und Thalia Geschenkkarte erhalten.

Jetzt verkaufen
Jetzt verkaufen

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

Weitere Artikel finden Sie in

  • Produktbild: Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
  • Zuverlässigkeit einbauen.-  Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.-  Memristor, der Speicherwiderstand.-  Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.-  Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.