Ein zuverlässiges logisches Bist mit skalierbarem Ansatz
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- Deutsch ausgewählt
39,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
09.02.2023
Verlag
Verlag Unser WissenSeitenzahl
68
Maße (L/B/H)
22/15/0,5 cm
Gewicht
119 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-620-5-68461-0
Wir schlagen einen neuartigen, skalierbaren Ansatz zur Verringerung der TE während des At-Speed-Tests von sequentiellen Schaltungen mit scan-basiertem LBIST unter Verwendung des Launch-on-Capture-Schemas vor. Dies wird durch die Verringerung des Aktivitätsfaktors der CUT erreicht, indem die von der LBIST erzeugten Testvektoren für sequenzielle ICs entsprechend modifiziert werden. Die Erzeugung eines signifikanten Leistungsabfalls (PD) während des von Logic Built-In Self Test (LBIST) durchgeführten At-Speed-Tests ist ein ernstes Problem für moderne ICs.
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