Produktbild: Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

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187,99 € UVP 213,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.03.2024

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,8 cm

Gewicht

493 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-19-8553-9

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

03.03.2024

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,8 cm

Gewicht

493 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-19-8553-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Produktbild: Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
  • Chapter 1: Introduction.- Chapter 2: Fault-tolerant general circuits with 3S.- Chapter 3: Fault-tolerant general purposed processors with 3S.- Chapter 4: Fault-tolerant network-on-chip with 3S.- Chapter 5: Fault-tolerant deep learning processors with 3S.- Chapter 6: Conclusion.