Produktbild: Active Probe Atomic Force Microscopy
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Active Probe Atomic Force Microscopy A Practical Guide on Precision Instrumentation

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

07.02.2025

Abbildungen

XXIV, 138 illus., 125 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Verlag

Springer

Seitenzahl

366

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,6 cm

Gewicht

664 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-44235-3

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Erscheinungsdatum

07.02.2025

Abbildungen

XXIV, 138 illus., 125 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen

Verlag

Springer

Seitenzahl

366

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,6 cm

Gewicht

664 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-44235-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Produktbild: Active Probe Atomic Force Microscopy
  • Introduction.- Active Probe Design and Fabrication .- Advanced Applications of Active Probes.- Atomic Force Microscope Designs.- AFM System using Active Probe.- A Low-cost AFM Design for Engineering Education.- Appendix.