Estudio de la microestructura de los polvos El método de Warren y Averbach
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43,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
09.07.2025
Verlag
Ediciones Nuestro ConocimientoSeitenzahl
56
Maße (L/B/H)
22/15/0,4 cm
Gewicht
102 g
Sprache
Spanisch
ISBN
978-620-8-84420-2
En condiciones ideales, la difracción de rayos X por un cristal produce picos de Dirac en los ángulos de difracción; la representación gráfica de la intensidad difractada en función del ángulo 2¿ se denomina diagrama de difracción o difractograma o espectro de difracción.El análisis de los patrones de difracción conduce a la interpretación de las estructuras y propiedades microestructurales de las muestras cristalizadas. Sin embargo, hay varios factores que influyen en la posición y la anchura del pico y en la intensidad difractada, como la dispersión espectral, la refracción, el factor de absorción y el factor de Lorentz.
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