Kephalometrische Messungen Nach J.a.Ramirez Caballero SPV, SPI, SPM, BA und BP. THEORIE UND GRUNDSÄTZE.
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- Deutsch ausgewählt
43,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
16.07.2025
Verlag
Verlag Unser WissenSeitenzahl
56
Maße (L/B/H)
22/15/0,4 cm
Gewicht
102 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-620-8-85765-3
Die in der Kieferorthopädie und der Zahn-, Mund- und Kiefergelenkorthopädie angewandten Techniken, mit denen bedeutende Veränderungen des Gesichtsaussehens erreicht werden können, können sich je nach Qualität der Behandlungsplanung günstig oder nachteilig auswirken. "Wir können Experten in der Anwendung der neuesten Techniken und Technologien sein, die der "Markt" anbietet, aber sie nützen uns nichts, wenn wir nicht in der Lage sind, eine genaue Diagnose des betreffenden klinischen Falles zu stellen. Diese ist von grundlegender Bedeutung und muss durch geeignete ergänzende Untersuchungen unterstützt werden. Unter diesen ist die Fernröntgenuntersuchung von besonderer Bedeutung. Für eine korrekte Interpretation der Kephalometrie ist es unerlässlich, dass die kephalometrischen Bezugsebenen stabil sind und so wenig wie möglich durch das Wachstum der angrenzenden Kieferknochenstrukturen beeinflusst werden.Ausgehend von diesem zentralen Punkt und nach einem langen Forschungsprozess leiste ich einen Beitrag zur radiologischen Kephalometrie, indem ich verschiedene Messungen vorschlage.
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