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  • Produktbild: High Performance Memory Testing
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Band 22 - 12%

High Performance Memory Testing Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.09.2002

Abbildungen

XIV, 250 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

250

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

568 g

Auflage

2003

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7255-0

Beschreibung

Rezension

From the reviews:



"Fulfilling a need in the industry and a need in the literature, the book is certain to stimulate a heightened research interest in memory test, memory design, and memory elf test, each of which by itself constitutes an intriguing subject. The observations and approaches of the book make it a most useful work for the professional and the researcher in helping them understand the memories that are being tested." (Current Engineering Practice, Vol. 47, 2002-2003)

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.09.2002

Abbildungen

XIV, 250 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

250

Maße (L/B/H)

24,1/16/1,9 cm

Gewicht

568 g

Auflage

2003

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4020-7255-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Test of Memories.- Opening Pandora’s Box.- Static Random Access Memories.- Multi-Port Memories.- Silicon On Insulator Memories.- Content Addressable Memories.- Dynamic Random Access Memories.- Non-Volatile Memories.- Memory Testing.- Memory Faults.- Memory Patterns.- Memory Self Test.- BIST Concepts.- State Machine BIST.- Micro-Code BIST.- BIST and Redundancy.- Design For Test and BIST.- Conclusions.