Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis Correction and Repair
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- Taschenbuch
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
10.12.2008
Abbildungen
XXIV, 200 p.
Verlag
Springer NetherlandSeitenzahl
200
Maße (L/B/H)
24,3/16,6/2 cm
Gewicht
483 g
Auflage
2009 edition
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4020-9364-7
Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis
covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
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