• Produktbild: Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
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Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Aus der Reihe Angewandte Physik

64,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1997

Abbildungen

mit 26 Abbildungen

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

20,3/13,3/1,8 cm

Gewicht

366 g

Auflage

1997

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-519-03221-2

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1997

Abbildungen

mit 26 Abbildungen

Verlag

Vieweg & Teubner

Seitenzahl

320

Maße (L/B/H)

20,3/13,3/1,8 cm

Gewicht

366 g

Auflage

1997

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-519-03221-2

Herstelleradresse

Vieweg+Teubner Verlag
Abraham-Lincoln-Straße 46
65189 Wiesbaden
DE

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  • 1 Grundlagen.- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste.- 3 Hochauflösende Elektronenmikroskopie.- 4 Analytische Elektronenmikroskopie.- A Anhang.- A1 Fourier-Optik.- A1.1 Beugung am Spalt.- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten.- A1.3 Fourier-Analyse.- A1.4 Fourier-Transformation.- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion.- A1.6 Beugung und Abbildung.- A2 Vereinfachende Abschätzung des Punktauflösungsvermögens eines Elektronenmikroskops.- A3 Formale Behandlung der inkohärenten Abbildung im ringförmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops.- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang.- Abbildungen.