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Band 5

Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics

Aus der Reihe Handbuch der Physik Encyclopedia of Physics

79,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

29.03.2012

Abbildungen

VIII, 656 S.

Herausgeber

S. Flügge

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

656

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,6 cm

Gewicht

1134 g

Auflage

1956

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-45851-4

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

29.03.2012

Abbildungen

VIII, 656 S.

Herausgeber

S. Flügge

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

656

Maße (L/B/H)

24,4/17/3,6 cm

Gewicht

1134 g

Auflage

1956

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-45851-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

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  • Determination of the Velocity of Light.- A. Introduction.- B. Methods of determination in vacuo and in air.- C. Velocity in matter.- D. Some relativistic experiments.- References.- Optique géométrique générale.- A. Lois générales de l’optique géométrique.- B. Recherche du stigmatisme rigoureux.- C. Approximation de (Gauss).- D. Le champ.- E. Les aberrations.- F. Contraste des images; influence des aberrations.- G. Conclusion.- Bibliographie.- Interférences, diffraction et polarisation.- A. Interférences.- B. Diffraction.- C. Polarisation.- Bibliographie Sommaire.- Optik dünner Schichten.- I. Allgemeine Übersicht über die Optik dünner Schichten und die Stoffauswahl in dem vorliegenden Artikel.- II. Die Grundlagen und die Grundaufgabe der Optik dünner Schichten.- III. Reflexionsfreie Schichtsysteme und linearpolarisierend reflektierende Schichtsysteme.- IV. Steigerung der Reflexion durch dünne Schichten.- V. Interferenzfilter.- VI. Methoden zur Messung der optischen Konstanten und der Dicke dünner Schichten.- Literatur.- Schlieren-, Phasenkontrast- und Lichtschnittverfahren.- A. Übersicht.- B. Schlierenverfahren.- C. Die Beugung am Objekt bei abbildenden Schlieren verfahren und das Phasenkontrastverfahren nach (Zernike).- D. Das Lichtschnittverfahren.- E. Vergleich der Schlieren- und Phasenkontrastverfahren mit den abbildenden Interferenzverfahren.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Table des Matières (Français).