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Optische Instrumente / Optical Instruments

Aus der Reihe Optik / Optics

79,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.2012

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

862

Maße (L/B/H)

24,4/17/4,7 cm

Gewicht

1471 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1967

Sprache

Deutsch, Englisch, Französisch

ISBN

978-3-642-46078-4

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.03.2012

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

862

Maße (L/B/H)

24,4/17/4,7 cm

Gewicht

1471 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1967

Sprache

Deutsch, Englisch, Französisch

ISBN

978-3-642-46078-4

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Optical Calculations and Optical Instruments, an Introduction.- Méthode de calcul des systèmes optiques.- A. Introduction.- B. Une méthode de calcul.- I. Les phases successives.- II. L’étude du système dans le domaine paraxial.- III. Etude du système dans le troisième ordre.- IV. La réduction des aberrations.- a) Généralités.- b) Variation locale de chemin optique en fonction des divers paramètres.- c) Changement de sphère de référence et expression générale de la variation de chemin optique aberrant.- d) Elaboration des dérivées partielles du chemin optique aberrant.- e) Reduction des aberrations chromatiques.- V. Les schémas de calcul.- C. Conclusion.- Theorie der geometrisch-optischen Bildfehler.- I. Konstruktionsdaten eines rotationssymmetrischen optischen Systems.- II. Strahldaten; Übergangs-und Brechungs-Formeln.- III. Gaußsche Näherung; Bildlot-Aberration.- IV. Iterations-Formelsatz für die Bildhöhen-Aberration windschiefer Strahlen.- V. Iterations-Formelsatz für die meridionale, sagittale und tangentiale Bildhöhenaberration.- VI. Eikonale; Bildfehler-Koeffizienten.- VII. Durchrechnungs- und Rekursionsformeln für die Bildfehler-Koeffizienten beliebiger Ordnung.- VIII. Strenge Darstellung der meridionalen, sagittalen und tangentialen Bildhöhen-Aberration als Funktion der Strahlanfangsdaten und der Langeschen Konstruktionsdaten; Näherungsdarstellungen.- Das photographische Objektiv.- Spiegelnde Prismen.- Teleskope.- A. Optische Abbildung in Fernrohren.- I. Einige Gesetze der optischen Abbildung.- a) Geometrisch-optische Beziehungen.- b) Wellenoptische Ergänzungen.- II. Abbildungsfehler.- a) Monochromatische Fehler.- b) Farbabhängige Fehler.- c) Zusammenwirken der Einzelfehler.- B. Optische Systeme für Fernrohre.- I. Anordnungen mit Reflexionsoptik.- a) Klassische Reflektoren.- b) Weiterentwicklung der Reflektoren.- c) Schmidt- und Meniskus-Systeme.- II. Systeme mit Refraktionsoptik.- C. Realisierung der optischen Elemente.- D. Konstruktionselemente der Fernrohre.- I. Zelle und Rohr.- II. Achsenmontierung.- III. Bewegungseinrichtungen.- Literatur.- Mikroskope.- I. Grundlagen.- II. Normale Mikroskope.- III. Besondere Geräte.- IV. Stereoskopische Mikroskope.- Literatur.- Diffraction Gratings.- A. General survey.- I. Historical review.- II. Diffraction by periodic structures and gratings.- III. Types of gratings.- B. Spectroscopic gratings.- I. The two aspects and the three theoretical descriptions of the diffraction of light by gratings.- II. Geometrical optics theory of grating image — formation and luminosity of gratings in spectrometers and spectrographs.- III. Electromagnetic theory of diffraction and of image formation by gratings.- IV. Physical optics theory of spectroscopic image formation by gratings (Fourier-transform formulation).- V. Light efficiency and “blaze” of gratings.- VI. Testing of gratings.- VII. Ruling of optical gratings and production of grating-replicas.- C. Modulated interference-gratings in wave-front reconstruction imaging and optical image filtering.- Optische Meßmethoden.- I. Einleitung.- II. Allgemeine Grundsätze.- a) Über die Anordnungen.- b) Über den Beobachter.- III. Urnormal Lichtwellenlänge.- a) Anschluß von Endmaßen an die Lichtwellenlänge.- b) Anschluß von Strichmaßen an die Lichtwellenlänge.- c) Ausführung von Strichmaßstäben.- IV. Mikroskopische Geräte und Verfahren.- V. Fernrohrgeräte und Verfahren zur Fluchtungsprüfung.- VI. Interferenzmeßmethoden für die mikroskopische Oberflächenprüfung.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Index (Français).