Gliederung.- I. Einleitung.- II. Entwicklungsziele und Dimensionierung des Elektronenmikroskops.- 1. Strahlspannung.- 2. Linsenart.- 3. Elektronenoptischer Abbildungsmaßstab.- 4. Auflösungsvermögen.- III. Beschreibung des magnetostatischen Gebrauchs-Mikroskops.- 1. Gesamtanordnung.- 2. Strahlerzeuger.- 3. Objekttisch und Objektschleuse.- 4. Betrachtungstubus und Kamera.- 5. Stativ mit Schaltgeräten und Vakuumanlage.- 6. Oberflächenuntersuchungen nach dem Schrägstrahlverfahren.- 7. Beugungsuntersuchungen.- IV. Magnetostatische Elektronenlinsen.- 1. Vorausberechnung der Abbildungssysteme.- 2. Die Regelung der Brechkraft magnetischer Linsen.- 3. Berechnung der astigmatischen Differenz aus Kaustikquerschnitten.- 4. Messung des Astigmatismus der Objektive.- V. Mit dem neuen Instrument durchgeführte elektronen¬mikroskopische Untersuchungen.- VI. Zusammenfassung.- VII. Literaturverzeichnis.