Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)
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Sprache:Deutsch
59,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
17.06.2015
Verlag
Cuvillier VerlagSeitenzahl
172
Maße (L/B/H)
21/14,8/1 cm
Gewicht
231 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-7369-9020-3
Ein weiterer wichtiger Aspekt für solch präzise Messungen ist die atomare Struktur des Messspitze, die aufgrund unterschiedlicher Reichweiten der zwischen ihr und der Probe bestehenden Wechselwirkungen spitz zulaufen und in lediglich einem Atom enden muss. Dies ist für gewöhnlich nicht direkt gegeben, so dass verschiedene Möglichkeiten zur strukturellen Modifikation untersucht wurden. Es zeigte sich, dass das erzielte Resultat vom Verhältnis der Steifheiten von Spitzen- und Probenmaterial abzuhängen scheint.
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