Aufbau und Charakterisierung eines 300 mK-UHV-10 T-Rasterkraftmikroskop-Systems und Messungen an Co-Salen auf Fe/W(001)
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Form:Einzelkauf Download
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Sprache:Deutsch
41,79 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Ja
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
17.06.2015
Verlag
Cuvillier Verlag eBooksSeitenzahl
172 (Printausgabe)
Dateigröße
2636 KB
Sprache
Deutsch
EAN
9783736980204
Ein weiterer wichtiger Aspekt für solch präzise Messungen ist die atomare Struktur des Messspitze, die aufgrund unterschiedlicher Reichweiten der zwischen ihr und der Probe bestehenden Wechselwirkungen spitz zulaufen und in lediglich einem Atom enden muss. Dies ist für gewöhnlich nicht direkt gegeben, so dass verschiedene Möglichkeiten zur strukturellen Modifikation untersucht wurden. Es zeigte sich, dass das erzielte Resultat vom Verhältnis der Steifheiten von Spitzen- und Probenmaterial abzuhängen scheint.
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