VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer Singapore
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
18.08.2019
Abbildungen
XVI, 775 p. 545 illus., 336 illus. in color.
Herausgeber
Anirban Sengupta + weitereVerlag
Springer SingaporeSeitenzahl
775
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/4,3 cm
Gewicht
1177 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-981-3297-66-1
This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.
The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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