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  • Produktbild: Singh, M: Characterization of Polymers and Fibres
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Singh, M: Characterization of Polymers and Fibres

Aus der Reihe Textile Institute Book

233,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

24.09.2021

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

506

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,6 cm

Gewicht

671 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-12-823986-5

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

24.09.2021

Verlag

Elsevier Science & Technology

Seitenzahl

506

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2,6 cm

Gewicht

671 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-12-823986-5

EU-Ansprechpartner

Elsevier B.V.
Radarweg 29
1043 NX Amsterdam
NL
productsafety@elsevier.com

Herstelleradresse

Elsevier Science & Technology
London Wall 125
EC2Y 5AS London
GB
tradeorders@elsevier.com

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  • Produktbild: Singh, M: Characterization of Polymers and Fibres
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  • 1. Polymers
    2. Fibre Extrusion by Melt Spinning
    3. Spin Finish for Natural and Synthetic Fibres
    4. Solution Spinning: Dry spinning
    5. Regenerated Fibres
    6. Fibre Characterization
    7. Fibre Drawing and Crystallization
    8. Polymer and Fibre Characterization by X-Ray diffraction
    9. Annealing (Heat setting) of fibres
    10. Overall Orientation of Textile Fibres Sonic Modulus and Birefringence
    11. Texturing of Textile Fibres and Yarns
    12. Tow-to Top Conversion of Textile Filaments
    13. Thermal Characterization of Materials by Differential Scanning Calorimeter (DSC)
    14. Thermal Characterization of Natural and Synthetic Fibres by Thermogravemetric Analyser (TGA)
    15. Dynamic Modulus Analysis
    16. Bicomponent Fibres
    17. FTIR Analysis of Natural and Synthetic Fibres
    18. Nuclear Magnetic Resonance Spectroscopy of Natural and Synthetic Fibres
    19. Particle Size Analysis
    20. Contact Angle and Surface Wettability Measurement
    21. Scanning Electron Microscope
    22. Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry (ICP-AES)
    23. Transmission Electron Microscope
    24. Atomic Force Microscopy