Avaliação teórica da reflectância em filmes finos AL/SiO2 SPUTTERING depositado para aplicações de revestimento óptico
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- Portugiesisch ausgewählt
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UVP
54,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
18.04.2021
Verlag
Edições Nosso ConhecimentoSeitenzahl
84
Maße (L/B/H)
22/15/0,6 cm
Gewicht
143 g
Sprache
Portugiesisch
ISBN
978-620-3-62225-6
A melhoria das propriedades ópticas de um material, como a reflectância, envolve a complexa busca dos parâmetros experimentais ideais no processo de obtenção dos mesmos. O uso de software computacional para a simulação destes processos de crescimento de película fina representa um benefício substancial devido à não dependência de um sistema real, bem como a possibilidade de explorar uma gama mais ampla de quantidades físicas envolvidas. Além disso, há uma necessidade na indústria automotiva, a Varroc Lighting Systems(c) recebeu a tarefa de melhorar a reflectância dos faróis aluminizados, por isso realizamos o desenvolvimento, utilizando o software NASCAM®, que utiliza o método cinético Monte Carlo para desenvolver um modelo do sistema físico a ser estudado em escala nanométrica, isto nos permitirá analisar a influência de diferentes magnitudes que podem afetar a reflectância do material.
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