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Advances in X-Ray Analysis Volume 36

49,99 €

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

24.10.2012

Abbildungen

XXIII, 685 p.

Herausgeber

John V. Gilfrich + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

685

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/3,8 cm

Gewicht

1315 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1993

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6293-7

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

24.10.2012

Abbildungen

XXIII, 685 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

685

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/3,8 cm

Gewicht

1315 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1993

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-6293-7

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • I. Mathematical Techniques in X-Ray Spectrometry.- II. Analysis of Light Elements by X-Ray Spectrometry.- III. XRS Techniques and Instrumentation.- IV. On-Line, Industrial and Other Applications of XRS.- V. X-Ray Characterization of Thin Films.- VI. Whole Pattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods.- VII. Polymer Applications of XRD.- VIII. High-Temperature and Non-Ambient Applications of XRD.- IX. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis.- X. XRD Techniques and Instrumentation.- Author Index.