Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
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Sprache:Englisch
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UVP
181,89 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
31.03.1986
Verlag
Springer UsSeitenzahl
454
Maße (L/B/H)
23,6/16/2,7 cm
Gewicht
853 g
Auflage
1986
Sprache
Englisch
ISBN
978-0-306-42140-2
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