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Produktbild: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Band 40

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing

160,49 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges...

Beschreibung

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

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Erscheinungsdatum

01.06.2008
Verlag Springer Netherlands
Seitenzahl

194 (Printausgabe)
Dateigröße

8078 KB
Sprache

Englisch
EAN

9781402083631
Barrierefreiheit
  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

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  • Foreword. Preface. Acronyms. 1. INTRODUCTION AND MOTIVATION. 1.1 Motivation. 1.2 SRAM in the Computer Memory Hierarchy. 1.3 Technology Scaling and SRAM Design and Test. 1.4 SRAM test economics. 1.5 SRAM Design and Test Tradeoffs. 1.6 Redundancy. 2. SRAM CIRCUIT DESIGN AND OPERATION. 2.1 Introduction. 2.2 SRAM block structure. 2.3 SRAM cell design. 2.4 Cell layout considerations. 2.5 Sense Amplifier and Bit Line Precharge-Equalization. 2.6 Write Driver. 2.7 Row Address Decoder and Column MUX. 2.8 Address Transition Detector. 2.9 Timing Control Schemes. 2.10 Summary. 3. SRAM CELL STABILITY: DEFINITION, MODELING AND TESTING. 3.1 Introduction. 3.2 Static noise margin of SRAM cells. 3.3 SNM Definitions. 3.4 Analytical expressions for SNM calculations. 3.5 SRAM cell stability sensitivity factors. 3.6 SRAM cell stability fault model. 3.7 SRAM Cell Stability Detection Concept. 3.8 March tests and stability fault detection in SRAMs. 3.9 Summary. 4. TRADITIONAL SRAM FAULT MODELS AND TEST PRACTICES. 4.1 Introduction. 4.2 Traditional fault models. 4.3 Traditional SRAM test practices. 4.4 Summary. 5. TECHNIQUES FOR DETECTION OF SRAM CELLS WITH STABILITY FAULTS. 5.1 Introduction. 5.2 Classification of SRAM cell stability test techniques. 5.3 Passive SRAM Cell Stability Test Techniques. 5.4 Active SRAM Cell Stability Test Techniques. 5.5 Summary. 6. SOFT ERROR IN SRAMs: SOURCES, MECHANISM AND MITIGATION TECHNIQUES. 6.1 Introduction. 6.2 Soft Error Mechanism. 6.3 Sources of Soft Errors. 6.4 Soft Errors and Defects in the Pull-Up Path of a Cell. 6.5 Soft Error Mitigation Techniques. 6.6 Leakage-Reduction Techniques and the SER. 6.7 Summary. References. Index.