Produktbild: Defekte in III-V Halbleitermaterialien des GaInAsP-Systems

Defekte in III-V Halbleitermaterialien des GaInAsP-Systems

84,00 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

17.10.2023

Herausgeber

Freiburg/Brsg. Fraunhofer ISE

Verlag

Fraunhofer Verlag

Seitenzahl

130

Maße (L/B)

21/14,8 cm

Auflage

1. Auflage

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-8396-1939-1

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

17.10.2023

Herausgeber

Freiburg/Brsg. Fraunhofer ISE

Verlag

Fraunhofer Verlag

Seitenzahl

130

Maße (L/B)

21/14,8 cm

Auflage

1. Auflage

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-8396-1939-1

Herstelleradresse

Fraunhofer
Nobelstr. 12|70569|Stuttgart|DE
irb@irb.fraunhofer.de

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