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  • Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
  • Produktbild: Advances in X-Ray Analysis
Band 32 - 12%

Advances in X-Ray Analysis Volume 32

Aus der Reihe Advances in X-Ray Analysis
12% sparen

187,99 € UVP 213,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

01.06.1989

Abbildungen

XXVI, 682 p.

Herausgeber

Charles S. Barrett + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

682

Maße (L/B/H)

26/18,3/4,4 cm

Gewicht

1450 g

Auflage

1989

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43236-1

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

01.06.1989

Abbildungen

XXVI, 682 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

682

Maße (L/B/H)

26/18,3/4,4 cm

Gewicht

1450 g

Auflage

1989

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-306-43236-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.